Moduły SPIP

Basic
 
ImageMet Explorer ™
 
3D Visualization Studio

Filter Module
 
Roughness & Hardness Analysis
 
Particle & Pore Analysis

Correlation Averaging
 
Extended Fourier Analysis
 
Batch Processing & Active Reporting

Force Curve Analysis
 
Tip Characterization
 
Calibration

Movie & Time Series Analysis
 
CITS Grid Spectroscopy
 

Basic
Obejmuje funkcje, które są niezbędne dla większości profesjonalistów pracujących z mikroskopem. Stanowi podstawę szkieletu SPIP™, dlatego jest wymagany do dowolnej konfiguracji oprogramowania. Dzięki modułowi Basic możliwe jest otwarcie ponad 100 formatów z różnych mikroskopów sondujących (SPM), mikroskopów elektronowych (SEM, TEM), optycznych i dotykowych oraz wszystkich popularnych formatów obrazu. W połączeniu z mikroskopem, SPIP™ może być skonfigurowany do automatycznego otwierania nowych plików w wyznaczonym folderze.


ImageMet Explorer ™
ImageMet Explorer to przeglądarka ponad 100 rodzajów typów plików graficznnych, obsługiwanych przez SPIP, dzięki czemu stanowi niezbędne narzędzie do podglądu i selekcji danych do ich analizy w SPIP.


3D Visualization Studio
Moduł 3D Visualization Studio generuje doskonałej jakości grafiki 3D do celów prezentacyjnych, a jednocześnie jest wydajnym narzędziem do kontroli i uwydatniania szczegółów obrazów. Możliwe jest też generowanie animacji w formacie AVI lub MPEG.


Filter Module
Moduł zawiera kompletny zestaw filtrów do uwydatnienia danych, w tym wzmocnienia kontrastu, odszumienia oraz separacji częśtotliwościowej danych.


Roughness & Hardness Analysis
Moduł pozwalający na analizę szorstkości i twardości materiału na podstawie obrazów mikrospokopwych, a wszystko to zgodnie ze standardami ISO. Ponadto możliwe jest wyznaczanie stałych materiałowych.


Particle & Pore Analysis
Moduł pozwalający określenie ilości cząstek, porów, ziaren oraz innych cech obrazu materiału. Możliwość wykrycia kształtu i rozmiaru na praktycznie każdej powierzchni.


Correlation Averaging
Dzięki modułowi możliwe jest wzmocnienie słabych struktur poprzez znalezienie różnych przykładów charakterystycznych struktur i wyznaczenie średnich ich wartości.


Extended Fourier Analysis
Moduł oferujący najbardziej zaawansowane narzędzia dostępne na rynku do kwantyfikacji powtarzalnych wzorców (np. sieci atomowych), powtarzalnych szumów oraz do filtrowania obrazów w dziedzinie częstotliwości.


Batch Processing & Active Reporting
Moduł pozwalający użytkownikom tworzenie skryptów przetwarzania obrazu, które mogą być uruchamiane zarówno na pojedynczych danych lub na setkach i tysiącach plików. Na podstawie wyników mogą być automatycznie generowane dokumeny Word lub HTML.


Force Curve Analysis
Moduł służący do przeglądania, przetwarzania i analizowania obrazów krzywych sił. Moduł ten zapewnia poprawę nieprzetworzonych danych poprzez korygowanie zniekształceń linii bazowej, histerezy i innych.


Tip Characterization
Moduł służycy do określenia kształtu używanej końcówki mikroskopu SPM i do operacji dekonwolucji zarejestrowanych obrazów celem kompensacji użycia. Ponadto możliwa jest emulacja skanowania jako narzędzie do obserwowania efektów skanowania.


Calibration
Moduł automatycznie określa krytyczne wymiary i nieliniowości obrazów oraz umożliwia kalibracje 2D zgodnie ze standardami ISO z niezrównaną dokładnością. Dodatkowo możliwe jest obliczanie parametrów korekcyjnych dla mikroskopów.


Movie & Time Series Analysis
Moduł łączy serię statycznych obrazów w skorygowane filmy, celem uwidocznienia zachowania materii w zależności od czasu, na przykład dynamiki atomowej lub reakcji chemicznych.


CITS Grid Spectroscopy
Moduł zapewnia unikalne narzędzia celem szybkiej i łatwej nawigacji, eksploracji i analizy danych spektroskopii siatek STM.


Script logo